検査装置

波長シフト方式フィゾー干渉計

P200

繰り返し反射干渉計

2nm以上の高精度測定が可能

P127

自動エリプソメータ

試料水平置き、入射角手動可変の小型エリプソメータ

P131

自動エリプソメータ(入射角可変型)

試料水平置き、入射角ステップ可変の小型エリプソメータ

P132

複屈折測定装置

CD、CD－ROM，MO、MD、DVD光各種ディスクの複屈折位相差を高速で測定

研磨製品

40余年培われた高精度光学研磨技術

特注品

様々な特注品を製作します！

P160

INJ噴霧解析装置

鏡面状サンプル表面の微小凹凸欠陥を検査する投影式表面検査器

P119

平面度検査器(フィゾー式)

試料表面の面精度を干渉縞の変位として非接触で測定

P121

平面度検査器(斜入射式)

比較的大きなうねりを評価する事が可能

P122