複屈折測定装置の概要
ELP-150ART
ELP-UV
複屈折性をもつ光学的に透明な材料を偏光が通過する際、その偏光の状態によって、2つの光線に分けられます。この2つの光線は通常光線と異常光線と呼ばれ、光学軸に対する偏光方向が異なり、それぞれの偏光方向に対して異なる屈折率が存在するということになります。
複屈折の測定を行うには、試料を透過後の偏光状態を測定する必要があり、エリプソメータで実績のある回転検光子法による測定を主としています。エリプソメータと違い、透過光にて測定を行うため、装置構成は、DVAシリーズがベースとなります。小さな光学素子の複屈折測定には、DVAシリーズにて対応可能ですが、大きなサンプルや、試料を水平に保持したい場合にも対応致しております。
測定波長は、レーザを用いた1～3波長タイプ、白色光源及び干渉フィルターを用いた数波長切換タイプ、白色光源を用いた分光タイプから選択可能です。
測定精度
| レーザ光源（He-Ne） | 白色光源 | |
|---|---|---|
| 位相差角（Δ） | ±0.01° | ±0.05° |
| 方位角（Axis） | ±0.01° | ±0.05° |
製品分類
| 分類 | 特長 | 製品 |
|---|---|---|
| 自動複屈折測定装置 | D、CD－ROM，MO、MD、DVD光各種ディスクの複屈折位相差を高速で測定します | ELP-150ART型･ELP-150ART-2型 |
| 自動複屈折測定装置 | 波長板や精密光学素子の透過位相差を測定します | ELP-VWQ型 |
| 紫外複屈折率測定装置 | 結晶材料、光学ガラス、プラスチックなど透明な平面平行板の複屈折を測定します | ELP-UV型 |
